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          咨詢熱線

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          當前位置:首頁   >  產品中心  >  牛津儀器 Oxford  >  XRF鍍層測量  >  MAXXI系列MAXXI鍍層測厚儀

          MAXXI鍍層測厚儀

          簡要描述:MAXXI鍍層測厚儀具有,有著非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量精準、測量時間短等特點;具有高生產力、高再現性,能有效控制產品質量,節約電鍍成本。

          • 產品型號:MAXXI系列
          • 廠商性質:代理商
          • 更新時間:2018-01-25
          • 訪  問  量:1721

          詳細介紹

          MAXXI鍍層測厚儀性能:

          MAXXI鍍層測厚儀被廣泛應用于PCB、LED、SMT、連接器、端子、五金產品、汽車零部件、衛浴潔具、珠寶等行業的表面鍍層厚度測量、材料分析及鍍液分析;是大型電鍍產品鍍層厚度測量的理想檢測工具。

          該產品具有,有著非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量精準、測量時間短等特點;具有高生產力、高再現性,能有效控制產品質量,節約電鍍成本。

          技術參數:

          型號

          MAXXI  5

          MAXXI  5  PIN

          備注

          測量元素范圍

          Ti22---U92

           

          鍍層和成分分析

          • 鍍層:zui多同時測定5層(4層鍍層+基體材料)
          • 成分:zui多同時測量20種元素

           

          測量方法

          • FP(經驗數據法),無需標準樣片

           

          X射線激發

          • 50Kv、1.2mA(60W)高壓發生器
          • 微聚焦W靶X射線管

           

          成像系統

          • 彩色視頻系統
          • 20倍放大倍數
          • 被測樣品圖像實時顯示功能
          • 電腦顯示屏具有畫中畫功能

           

          計算機系統

          • Inter Pentium G2030,內存2G,硬盤500G
          • 17吋液晶彩色顯示器
          • MicrosoftTM  Win7 32bit

           

          樣品臺規格

          • X-Y手動樣品臺:600×600mm,zui大承重25Kg,zui大樣品高度175mm或350mm可調
          • X-Y程控樣品臺:X-Y臺面尺寸300×250mm,zui大承重5Kg,zui大樣品高度180mm,程控距離X=300mm、Y=250mm

           

          儀器外形

          長×寬×高700×770×700mm(不含電腦、顯示器)

           

          zui大樣品

          • X-Y手動樣品臺:長×寬×高600×500×350mm
          • X-Y程控樣品臺:長×寬×高600×500×180mm

           

          程控Z軸移動距離

          ≤180mm,可使用鼠標或手柄控制

           

          主機重量

          90Kg(不含電腦、顯示器)

           

          準直器規格

          • 可選單準直器、多準直器
          • 多準直器程控交換
          • 可選園形、矩形準直器
          • 單準直器任選:Ø0.2、Ø0.3、Ø0.5、0.1×0.3mm
          • 多準直器選項:①Ø0.2、0.06×0.06、0.05×0.15、0.1×0.2mm;②Ø0.1、Ø0.20、0.06×0.06、0.05×0.15mm
          • 可選單準直器、多準直器
          • 多準直器程控交換
          • 可選園形、矩形準直器
          • 單準直器任選:Ø0.3、Ø0.4、Ø0.5、0.2×0.5mm
          • 多準直器:Ø0.3、Ø0.5、0.1×0.7、0.2×0.7mm

           

          探測器

          正比例計數器

          25mm2半導體(Si-PIN)探測器,Peltier電制冷

           

          軟件模塊可選

          μ-Master用于鍍層測量

          Element--Master用于材料分析

          %-Master用于材料分析(珠寶)

          Report-Master用于微軟報告文件

          Data-Master用于數據庫管理

          Liquid-Master用于電鍍液分析

           

          產地

          德國

          產品咨詢

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